产品详细信息：

新型TI-PVX：精密超声波壁厚计提供了高分辨率和穿透要求所需的灵活性。
它能够将各种单晶传感器用于特定应用：标准延迟线（用于金属和薄塑料的丙烯酸和石墨尖端）、铅笔延迟线（薄材料上的难接近区域）和接触式传感器（各种应用）使其成为非常精确和精细测量的完美灵活工具。可调节的分辨率设置增加了PVX的灵活性。
可选择的查看选项为用户在操作过程中提供了额外的灵活性：（射频波形、+/-整流波形和带扫描条的大数字。
基于时间的B扫描功能显示测试材料的横截面。显示材质另一面的轮廓。
高速扫描功能通过每秒进行32次测量来加快检查过程。从测试材料上拆下传感器，并显示扫描的最小测量值。

特征：

包括NIST可追溯校准证书
硬件AGC增益控制，用于多回波和透漆测量。
多种校准选项：单点、两点或从材料列表中选择。
16种出厂设置和48种用户自定义设置。用户定义的设置可以针对自定义应用程序进行编辑。
PVX配备了字母数字数据记录器，为这些定制报告需求提供了更多的通用性。
高速扫描功能允许用户扫描大面积，显示扫描过程中最薄的读数
自动查找功能定位检测点并调整显示设置以显示波形。
PVX配有Windows®PC软件，用于在PC之间传输数据。
用户选择的分辨率为0.001英寸或0.0001英寸单位（0.01或0.001毫米）s
视觉和听觉警报具有单独的高和低设置，适用于特定的应用公差。
1/4“15MHz延迟线探头p/n T-481-5507在不需要铅笔探头时也可用。指定TI-PVX-5507作为该探头的完整套件订购
CE认证
保修：仪表：2年，探头：90天
美国制造。